X射線(xiàn)斷層掃描儀工作原理講解

　　X射線(xiàn)斷層掃描儀是物體內外部缺陷測量與統計、結構尺寸測量、設計工藝改進(jìn)、升級制造技術(shù)的手段。該檢測能在不破壞工件結構的情況下實(shí)現模具及模具產(chǎn)品的表面和內部結構的幾何尺寸以及曲面測量，計算出測量目標的長(cháng)寬高、面積、表面積、體積等各種幾何參數，實(shí)現零件與CAD模型對比、幾何尺寸與公差分析、零件與零件對比。同時(shí)可實(shí)現產(chǎn)品內部多種缺陷的無(wú)損檢測和無(wú)損質(zhì)量評價(jià)，檢測對象也幾乎涵蓋了各種材質(zhì)和各種結構類(lèi)型的模具及模具產(chǎn)品。

　　X射線(xiàn)斷層掃描儀工作原理：

　　當扇形X射線(xiàn)束穿透樣品(固定于樣品架上，可旋轉)時(shí)，部分光子被吸收，X線(xiàn)強度因而衰減，未被吸收的X線(xiàn)光子穿透樣品后，被檢測器接收，然后經(jīng)放大并轉化為電子流，作為模擬信號輸入至計算機中并采用數學(xué)方法求解出衰減系數值在樣品某剖面上的二維分布矩陣，轉變?yōu)閳D像畫(huà)面上的灰度分布，從而建立樣品的斷面圖像。

　　X射線(xiàn)斷層掃描儀提供了一種快速可視的物體內外結構三維模式。是較小的便攜式計算機斷層掃描，靈活性較強、較輕便，這些突出特點(diǎn)使用戶(hù)能在任何地方靈活使用此設備，放在車(chē)中，在現場(chǎng)或野外進(jìn)行樣品檢測，無(wú)需把樣品或部件送到實(shí)驗室檢測，特別適合地質(zhì)、材料檢測使用。系統采用了高性能微焦點(diǎn)X射線(xiàn)管，塑料或有機材料制成的固體樣本的檢測可較大幾何尺寸。檢測的部件為金屬?？蓪θ缍嗫谆炷令?lèi)似物體的進(jìn)行檢測。